Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1 für nicht- ferro- + ferromagnetischeUntergründe KERN

Schichtdickenmessgerät F/N, Modell TE, mit externem Messkopf

• Handliches Schichtdickenmessgerät
• Datenausgang RS-232
• Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen

Ablesung:
Messbereich 0 bis 100 µm: 0,1 µm
Messbereich 100 bis 1250 µm: 1 µm

Messunsicherheit (nach Kalibrierung):
Standard: 3 % oder ±2,5 µm
Offset-Accur: 1 % oder ±1 µm

Lieferung: Mit Nullplatten, Justierfolien und 4 Micro-Batterien AAA/LR03, im Tragekoffer.